研究分野

材料の元素分布・反応生成物の解析

コンクリート構造物や材料の劣化や反応の進行状況を評価します。

試験装置

研究棟

EPMA(電子線マイクロアナライザー)

EPMAは、電子顕微鏡(SEM)と波長分散型のX線分析装置を組み合わせた分析装置で、物体の表面の状態(元素の分布状況)をマッピングすることができます。また、コンクリートへの外部からの腐食物質(塩分・硫酸・炭酸ガス等)の侵入状態を見ることができます。

EPMA(電子線マイクロアナライザー)

仕様

機種 EPMA 1720HT 分布元素範囲 4Be ~ 92U
X線分光器数 5チャンネル 2次電子分解能 5nm
加速電圧 0~30kV 倍率 40 ~ 400,000倍

EPMA分析事例

EPMA分析例(塩害)
塩害を受けたコンクリート構造物

分析元素:塩素(Cℓ)

  • 劣化機構:塩化物イオン(Cℓ-)により、鉄筋の腐食、膨張が起き、コンクリートにひび割れが生じる。
EPMA分析例(中性化)
硫酸浸食を受けたコンクリート

分析元素:硫黄(S)

  • 劣化機構:下水道内に生息する細菌により生成された硫酸が、コンクリートを劣化させる。
EPMA分析例(硫酸侵食を受けたコンクリート)
ひび割れ注入材の確認

分析元素:炭素(C)

  • サンプル説明:当社がひび割れ注入を施工したコンクリート構造物から、サンプルを採取し、注入深さを確認した。

研究棟

XRD(X線回折分析装置)

X線回折法では、コンクリート成分(セメント・骨材)やコンクリートからの析出物の成分分析ができます。X線を入射角で当て、回折してきたX線の強さと回折角からその物質がどのような鉱物(結晶)からできているかを調べることができます。

X線回折分析装置

研究棟

顕微FT-IR(顕微フーリエ変換⾚外分光光度計)

有機化合物の官能基の持つ特有の赤外吸収スペクトルを測定し、解析する装置で、有機化合物中の構造や反応機構などの解明に使用します。

顕微FT-IR(顕微フーリエ変換⾚外分光光度計)

仕様

干渉計 入射マイケルソン干渉計 光学系 シングルビーム式
光源 高輝度セラミックス光源 検出器 温調付高感度焦電検出器
測定波数範囲 7,800~350cm-1